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  • détecteur
  • EBSD
  • EDS
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  • pression
  • STEM
  • TEM

Microscope électronique à balayage FEG à pression contrôlée Détecteurs SE, In-lens, BSE, VPSE, STEM, EBSD, EDS + accessoires

Informations générales

Marque

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Type

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Adresse Web

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À disposition ?

Oui

Localisation

Étage

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Bâtiment

410 / 415

Salle

Aucune info


sponsors

Portail réalisé en 2013 par des apprentis en informatique de Polytech Paris-Sud
Refonte agile du portail en 2014, puis 2015 par Samy GHRIBI, étudiant à Centrale Paris.