Plateforme de Spectroscopie Electronique XPS-AES-UPS : Analyse chimique quantitative de surface des matériaux Profil en profondeur (abrasion par ions Ar ou C60) Cartographie Mesure du travail de sortie
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Oui
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Nom | Laboratoire | |
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David ALAMARGUY | david.alamarguy@lgep.supelec.fr | LABORATOIRE DE GENIE ELECTRIQUE ET ELECTRONIQUE DE PARIS |