| Chambres froides |
Oui
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| Chromatographie ionique (IC) |
Oui
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| Diffractomètre de RX |
Oui
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| GC-MS équipé d’une ligne de séparation par cryogénie |
Oui
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| Granulomètre Laser |
Oui
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| Ligne d’extraction de l’hélium |
Oui
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| Ligne de préparation semi-automatique du 14C |
Oui
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| Ligne sismique 48 voies |
Oui
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| Magnétomètre |
Oui
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| Matériels topographiques |
Oui
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| MEB FEI XL 30 doté d’un détecteur de rayons X en Germanium |
Oui
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| Microscope à platine motorisée |
Oui
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| Microscope à force atomique |
Oui
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| Microscope pour la datation traces de fission |
Oui
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| Microscopie à Cathodoluminescence (CL) |
Oui
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| Microthermométrie des Inclusions Fluides |
Oui
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| PROMIS |
Oui
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| Radar de sol |
Oui
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| Scanner Laser Digital 3D |
Oui
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| Spectromètre d’absorption Atomique |
Oui
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| Spectromètre d’absorption laser |
Oui
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| Spectromètre de masse |
Oui
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| Spectromètre de masse |
Oui
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| Spectromètre de masse 180° multi-collection |
Oui
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| Spectromètre de masse 180° pentacollection |
Oui
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| Spectromètre de masse quadrupôle VG |
Oui
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| Spectromètre infrarouge (IRTF) |
Oui
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| Spectrophotomètre à Absorption-Emission atomique |
Oui
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| Spectrophotomètre à Absorption-Emission atomique |
Oui
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| Système d'imagerie électrique multi-électrodes |
Oui
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