Microscopies à sondes locales (AFM-MFM et STM-BEEM)
Description
Microscopies à sondes locales (AFM-MFM et STM-BEEM). Permettent d’obtenir des résolutions ultimes de l’ordre de 10 nm et de remonter à la structure des parois de domaines magnétiques.
Portail réalisé en 2013 par des
apprentis
en informatique de Polytech Paris-Sud
Refonte agile du portail en 2014, puis 2015 par Samy GHRIBI, étudiant à Centrale Paris.